KS C IEC 62276-2019
Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden

Standard-Nr.

KS C IEC 62276-2019

Erscheinungsdatum

2019

Organisation

KR-KS

Letzte Version

KS C IEC 62276-2019

KS C IEC 62276-2019 Veröffentlichungsverlauf

• 2019 KS C IEC 62276:2019 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
• 2007 KS C IEC 62276:2007 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden