2017UNE-EN 60749-3:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Juli 2017.)
2003UNE-EN 60749-3:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung.