UNE-EN ISO 9220:1996
METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Standard-Nr.

UNE-EN ISO 9220:1996

Erscheinungsdatum

1996

Organisation

AENOR

Zustand

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ersetzt durch

UNE-EN ISO 9220:2022

Letzte Version

UNE-EN ISO 9220:2022

UNE-EN ISO 9220:1996 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• 1996 UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).