UNE-EN 60749-37:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 37: Falltestmethode auf Platinenebene unter Verwendung eines Beschleunigungsmessers (von AENOR im Juli 2008 gebilligt.)

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-37:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 60749-37:2008

UNE-EN 60749-37:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 UNE-EN 60749-37:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 37: Falltestmethode auf Platinenebene unter Verwendung eines Beschleunigungsmessers (von AENOR im Juli 2008 gebilligt.)