T/CIE 144-2022
Testverfahren zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen (Englische Version)

Standard-Nr.

T/CIE 144-2022

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Organisation

Group Standards of the People's Republic of China

Letzte Version

T/CIE 144-2022

T/CIE 144-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 1970 T/CIE 144-2022 Testverfahren zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen