BS EN ISO 9220:1989
Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Standard-Nr.

BS EN ISO 9220:1989

Erscheinungsdatum

1989

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Zustand

ersetzt werden 2022-07

ersetzt durch

BS EN ISO 9220:2022

Letzte Version

BS EN ISO 9220:2022

BS EN ISO 9220:1989 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• 1989 BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren