UNE-EN 60749-29:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 29: Latch-up-Test (Genehmigt von AENOR im November 2011.)

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-29:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 60749-29:2011

UNE-EN 60749-29:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 UNE-EN 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 29: Latch-up-Test (Genehmigt von AENOR im November 2011.)