IEEE Std 1149.7-2022
IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

Standard-Nr.

IEEE Std 1149.7-2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEEE Std 1149.7-2022

IEEE Std 1149.7-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 IEEE Std 1149.7-2022 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
• 2010 IEEE Std 1149.7-2009 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität