KS D 0257-2002(2017)
Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode

Standard-Nr.

KS D 0257-2002(2017)

Erscheinungsdatum

2002

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS D 0257-2022

Letzte Version

KS D 0257-2022

KS D 0257-2002(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS D 0257-2022 Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode
• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode
• 0000 KS D 0257-1999