KS D 0257-2022
Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode

Standard-Nr.

KS D 0257-2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS D 0257-2022

KS D 0257-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS D 0257-2022 Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode
• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 Messung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium-Einkristallen durch photoleitende Zerfallsmethode
• 0000 KS D 0257-1999