BS EN IEC 60749-20:2020
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Einwirkung von Feuchtigkeit und Löthitze

Standard-Nr.
BS EN IEC 60749-20:2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS EN IEC 60749-20:2020

BS EN IEC 60749-20:2020 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 BS EN IEC 60749-20:2020 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Einwirkung von Feuchtigkeit und Löthitze
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Beständigkeit von kunststoffummantelten SMDs gegenüber der kombinierten Einwirkung von Feuchtigkeit und Löthitze



© 2024 Alle Rechte vorbehalten.