IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008
IEC/IEEE-Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien

Standard-Nr.

IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008

Erscheinungsdatum

2013

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008

IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2013 IEC 62860:2013*IEEE Std 1620:2008 IEC/IEEE-Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien