EN 60749-28:2017
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

Standard-Nr.
EN 60749-28:2017
Erscheinungsdatum
2017
Organisation
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Letzte Version
EN 60749-28:2017

EN 60749-28:2017 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene


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