BS EN IEC 60749-28:2022
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene

Standard-Nr.

BS EN IEC 60749-28:2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS EN IEC 60749-28:2022

BS EN IEC 60749-28:2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 BS EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Aufgeladenes Gerätemodell (CDM). Geräteebene