UNE-EN IEC 60749-37:2022
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 37: Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2023.)

Standard-Nr.

UNE-EN IEC 60749-37:2022

Erscheinungsdatum

2023

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN IEC 60749-37:2022

UNE-EN IEC 60749-37:2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2023 UNE-EN IEC 60749-37:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 37: Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2023.)