UNE-EN 60191-6-20:2010
Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ) (...