IEC 60749-41:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 41: Standardverfahren zur Zuverlässigkeitsprüfung von nichtflüchtigen Speicherbauelementen

Standard-Nr.
IEC 60749-41:2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 60749-41:2020

IEC 60749-41:2020 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 41: Standardverfahren zur Zuverlässigkeitsprüfung von nichtflüchtigen Speicherbauelementen
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 41: Standardverfahren zur Zuverlässigkeitsprüfung von nichtflüchtigen Speicherbauelementen



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