IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 41: Standardverfahren zur Zuverlässigkeitsprüfung von nichtflüchtigen Speicherbauelementen
2020IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 41: Standardverfahren zur Zuverlässigkeitsprüfung von nichtflüchtigen Speicherbauelementen