IEC 63284:2022
Halbleiterbauelemente – Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren

Standard-Nr.: IEC 63284:2022
Erscheinungsdatum: 2022
Organisation: International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version: IEC 63284:2022

IEC 63284:2022 Veröffentlichungsverlauf

2022 IEC 63284:2022 Halbleiterbauelemente – Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren

Halbleiterbauelemente – Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren

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