UNE-EN IEC 60749-20:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von kunststoffgekapselten SMDs gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im November 2020.)