DIN 50456-2:1995
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Verfahren zur Charakterisierung von Formmassen für elektronische Bauteile – Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Schnellkochtopftest

Standard-Nr.
DIN 50456-2:1995
Erscheinungsdatum
1995
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
Letzte Version
DIN 50456-2:1995

DIN 50456-2:1995 Veröffentlichungsverlauf

  • 1995 DIN 50456-2:1995 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Verfahren zur Charakterisierung von Formmassen für elektronische Bauteile – Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Schnellkochtopftest
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Verfahren zur Charakterisierung von Formmassen für elektronische Bauteile – Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Schnellkochtopftest



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