UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Von AENOR im Januar 2013 gebilligt.)
2013UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Von AENOR im Januar 2013 gebilligt.)
2006UNE-EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006) (Von AENOR im November 2006 gebilligt.)