DIN 50433-3:1982
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung der Orientierung von Einkristallen mittels Laue-Rückstreuung

Standard-Nr.

DIN 50433-3:1982

Erscheinungsdatum

1982

Organisation

German Institute for Standardization

Zustand

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Letzte Version

DIN 50433-3:1982

DIN 50433-3:1982 Veröffentlichungsverlauf

• 1982 DIN 50433-3:1982 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung der Orientierung von Einkristallen mittels Laue-Rückstreuung