IEC 63229:2021
Halbleiterbauelemente – Klassifizierung von Defekten in Galliumnitrid-Epitaxiefilmen auf Siliziumkarbid-Substrat

Standard-Nr.

IEC 63229:2021

Erscheinungsdatum

2021

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 63229:2021

IEC 63229:2021 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 IEC 63229:2021 Halbleiterbauelemente – Klassifizierung von Defekten in Galliumnitrid-Epitaxiefilmen auf Siliziumkarbid-Substrat