IEEE/IEC 63003-2015
Internationaler IEC/IEEE-Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505(TM)

Standard-Nr.

IEEE/IEC 63003-2015

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEEE/IEC 63003-2015

IEEE/IEC 63003-2015 Veröffentlichungsverlauf

• 1970 IEEE/IEC 63003-2015 Internationaler IEC/IEEE-Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505(TM)