ISO 22415:2019
Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Argon-Cluster-Sputter-Tiefenprofilierung organischer Materialien

Standard-Nr.

ISO 22415:2019

Erscheinungsdatum

2019

Organisation

International Organization for Standardization (ISO)

Letzte Version

ISO 22415:2019

ISO 22415:2019 Normative Verweisungen

• ISO 18115-1:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 1: Allgemeine Begriffe und Begriffe, die in der Spektroskopie verwendet werden

ISO 22415:2019 Veröffentlichungsverlauf

• 2019 ISO 22415:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Bestimmung des Ausbeutevolumens bei der Argon-Cluster-Sputter-Tiefenprofilierung organischer Materialien