T/IAWBS 003-2017
Bestimmung der Trägerkonzentration in der epitaktischen SiC-Schicht_Kapazitäts-Spannungs-Methode mit Quecksilbersonde (Englische Version)

Standard-Nr.
T/IAWBS 003-2017
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2017
Organisation
Group Standards of the People's Republic of China
Letzte Version
T/IAWBS 003-2017

T/IAWBS 003-2017 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 T/IAWBS 003-2017 Bestimmung der Trägerkonzentration in der epitaktischen SiC-Schicht_Kapazitäts-Spannungs-Methode mit Quecksilbersonde
Bestimmung der Trägerkonzentration in der epitaktischen SiC-Schicht_Kapazitäts-Spannungs-Methode mit Quecksilbersonde



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