KS C 6111-3-2007(2022)
Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen

Standard-Nr.

KS C 6111-3-2007(2022)

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C 6111-3-2007(2022)

KS C 6111-3-2007(2022) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS C 6111-3-2022 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen
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• 2007 KS C 6111-3-2007 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen