KS C 6111-3-2022
Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen

Standard-Nr.
KS C 6111-3-2022
Erscheinungsdatum
2022
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Letzte Version
KS C 6111-3-2022

KS C 6111-3-2022 Veröffentlichungsverlauf

  • 2022 KS C 6111-3-2022 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen
  • 0000 KS C 6111-3-2007(2017)
  • 2007 KS C 6111-3-2007 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen



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