IEC TS 62878-2-4:2015
Im Gerät eingebettetes Substrat – Teil 2-4: Richtlinien – Testelementgruppen (TEG)
- Standard-Nr.
- IEC TS 62878-2-4:2015
- Erscheinungsdatum
- 2015
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC TS 62878-2-4:2015
- Ersetzen
- IEC 91/1144/DTS:2013
IEC TS 62878-2-4:2015 Normative Verweisungen
- IEC 60194:2006 Design, Herstellung und Montage von Leiterplatten – Begriffe und Definitionen
- IEC 62878-1-1 In Geräte eingebettetes Substrat – Teil 1-1: Fachgrundspezifikation – Prüfverfahren*， 2015-05-20 Aktualisieren
IEC TS 62878-2-4:2015 Veröffentlichungsverlauf
- 2015 IEC TS 62878-2-4:2015 Im Gerät eingebettetes Substrat – Teil 2-4: Richtlinien – Testelementgruppen (TEG)
IEC TS 62878-2-4:2015 Im Gerät eingebettetes Substrat – Teil 2-4: Richtlinien – Testelementgruppen (TEG) ha sido cambiado a IEC 91/1144/DTS:2013 IEC/TS 62878-2-4, Ed. 1: Device Embedded Substrate – Teil 2-4: Richtlinien – Testelementgruppen (TEG).
