DB13/T 5696-2023
Schnelles Defekt-Screening-Verfahren für GaN-HEMT-HF-Leistungsgeräte basierend auf einem Hochtemperatur-Sperrvorspannungstest (Englische Version)
Start
DB13/T 5696-2023
Standard-Nr.
DB13/T 5696-2023
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2023
Organisation
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China
Letzte Version
DB13/T 5696-2023
DB13/T 5696-2023 Veröffentlichungsverlauf
2023
DB13/T 5696-2023
Schnelles Defekt-Screening-Verfahren für GaN-HEMT-HF-Leistungsgeräte basierend auf einem Hochtemperatur-Sperrvorspannungstest
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