DIN EN 62374-1:2011-06
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Zeitabhängiger dielektrischer Durchschlagstest (TDDB) für Zwischenmetallschichten (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011

Standard-Nr.: DIN EN 62374-1:2011-06
Erscheinungsdatum: 2011
Organisation: German Institute for Standardization
Letzte Version: DIN EN 62374-1:2011-06

DIN EN 62374-1:2011-06 Veröffentlichungsverlauf

2011 DIN EN 62374-1:2011-06 Halbleiterbauelemente - Teil 1: Zeitabhängiger dielektrischer Durchschlagstest (TDDB) für Zwischenmetallschichten (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011
2011 DIN EN 62374-1:2011 Halbleiterbauelemente – Teil 1: Zeitabhängiger dielektrischer Durchschlagstest (TDDB) für Zwischenmetallschichten (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011
0000 DIN IEC 62374-1:2008

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Zeitabhängiger dielektrischer Durchschlagstest (TDDB) für Zwischenmetallschichten (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011

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