BS EN IEC 60749-37:2022 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser
2022BS EN IEC 60749-37:2022 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Beschleunigungsmesser