GB/T 37051-2018
Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 37051-2018

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

Letzte Version

GB/T 37051-2018

GB/T 37051-2018 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 GB/T 37051-2018 Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern