UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien (IEC 62047-2:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)

Standard-Nr.
UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006
Erscheinungsdatum
2006
Organisation
ES-UNE
Zustand
ersetzt durch
UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006
Letzte Version
UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006

UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 Veröffentlichungsverlauf

  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.2.1:2006 Übertragung und Multiplexing (TM); Allgemeine Anforderungen an die Transportfunktionalität von Geräten; Teil 5-1: Funktionen der Pfadschicht der Plesiochronen Digitalen Hierarchie (PDH) (Befürwortet von AENOR im Dezember 2006.)
  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.1.3:2006 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien (IEC 62047-2:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)
  • 2006 UNE-EN 300417-5-1 V1.1.2:2006 Übertragung und Multiplexing (TM); Allgemeine Anforderungen an die Transportfunktionalität von Geräten; Teil 5-1: Funktionen der Pfadschicht der Plesiochronen Digitalen Hierarchie (PDH) (Befürwortet von AENOR im Dezember 2006.)



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