DB52/T 1104-2016
Transiente Testmethode für den thermischen Widerstand des Anschlussgehäuses von Halbleiterbauelementen (Englische Version)

Standard-Nr.

DB52/T 1104-2016

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China

Letzte Version

DB52/T 1104-2016

DB52/T 1104-2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 DB52/T 1104-2016 Transiente Testmethode für den thermischen Widerstand des Anschlussgehäuses von Halbleiterbauelementen