SJ/T 11702-2018
Prüfverfahren für serielle Peripherieschnittstellen integrierter Halbleiterschaltungen (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11702-2018

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

工业和信息化部

Letzte Version

SJ/T 11702-2018

SJ/T 11702-2018 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 SJ/T 11702-2018 Prüfverfahren für serielle Peripherieschnittstellen integrierter Halbleiterschaltungen