KS C 6049-1980(2020)
Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise
Start
KS C 6049-1980(2020)
Standard-Nr.
KS C 6049-1980(2020)
Erscheinungsdatum
1980
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Letzte Version
KS C 6049-1980(2020)
KS C 6049-1980(2020) Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C 6049-2020
Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise
1980
KS C 6049-1980
Umwelttestmethoden und Dauertestmethoden für integrierte Halbleiterschaltkreise
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