DIN EN 62374:2008-02
Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007

Standard-Nr.

DIN EN 62374:2008-02

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

German Institute for Standardization

Letzte Version

DIN EN 62374:2008-02

DIN EN 62374:2008-02 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 DIN EN 62374:2008-02 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
• 2008 DIN EN 62374:2008 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007