BS IEC 62047-35:2019
Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte – Prüfverfahren für elektrische Eigenschaften bei Biegeverformung für flexible elektromechanische Geräte
Start
BS IEC 62047-35:2019
Standard-Nr.
BS IEC 62047-35:2019
Erscheinungsdatum
2021
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS IEC 62047-35:2019
BS IEC 62047-35:2019 Veröffentlichungsverlauf
2021
BS IEC 62047-35:2019
Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte – Prüfverfahren für elektrische Eigenschaften bei Biegeverformung für flexible elektromechanische Geräte
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