BS IEC 63284:2022
Halbleiterbauelemente. Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren
- Standard-Nr.
- BS IEC 63284:2022
- Erscheinungsdatum
- 2022
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS IEC 63284:2022
BS IEC 63284:2022 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 BS IEC 63284:2022 Halbleiterbauelemente. Zuverlässigkeitstestverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren
