EN 60749-29:2003
Halbleiterbauelemente Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 29: Latch-Up-Test

Standard-Nr.

EN 60749-29:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

EN 60749-29:2011

Letzte Version

EN 60749-29:2011

EN 60749-29:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 EN 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test
• 2003 EN 60749-29:2003 Halbleiterbauelemente Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 29: Latch-Up-Test