UNE-EN 60749-40:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen (von AENOR im November 2011 gebilligt.)

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-40:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 60749-40:2011

UNE-EN 60749-40:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 UNE-EN 60749-40:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen (von AENOR im November 2011 gebilligt.)