UNE-EN 60749-40:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen (von AENOR im November 2011 gebilligt.)

Standard-Nr.
UNE-EN 60749-40:2011
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
ES-UNE
Letzte Version
UNE-EN 60749-40:2011

UNE-EN 60749-40:2011 Veröffentlichungsverlauf

  • 2011 UNE-EN 60749-40:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen (von AENOR im November 2011 gebilligt.)



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