DIN 50450-2:1991-03
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in N<(Index)2>, Ar, He, Ne und H<(Index)2> durch Verwendung einer galvanischen Zelle