UNE-EN 62047-2:2006
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien (IEC 62047-2:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)

Standard-Nr.

UNE-EN 62047-2:2006

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 62047-2:2006

UNE-EN 62047-2:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2007 UNE-EN 62047-2:2006 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 2: Zugprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien (IEC 62047-2:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)