ISO 22278:2020
Feinkeramik (Hochleistungskeramik, hochentwickelte technische Keramik) – Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnschichten (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl

Standard-Nr.
ISO 22278:2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
International Organization for Standardization (ISO)
Letzte Version
ISO 22278:2020

ISO 22278:2020 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 ISO 22278:2020 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, hochentwickelte technische Keramik) – Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnschichten (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl
Feinkeramik (Hochleistungskeramik, hochentwickelte technische Keramik) – Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnschichten (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl



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