BS EN IEC 60749-30:2020
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden – Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung
- Standard-Nr.
- BS EN IEC 60749-30:2020
- Erscheinungsdatum
- 2020
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS EN IEC 60749-30:2020
BS EN IEC 60749-30:2020 Veröffentlichungsverlauf
- 2020 BS EN IEC 60749-30:2020 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden – Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Geräte vor der Zuverlässigkeitsprüfung
