NF EN 62132-8:2013
Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit – Teil 8: Messung der Strahlungsstörfestigkeit – Platten-TEM-Linienmethode für integrierte Schaltkreise

Standard-Nr.

NF EN 62132-8:2013

Erscheinungsdatum

2013

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

NF EN 62132-8:2013

NF EN 62132-8:2013 Veröffentlichungsverlauf

• 2013 NF EN 62132-8:2013 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit – Teil 8: Messung der Strahlungsstörfestigkeit – Platten-TEM-Linienmethode für integrierte Schaltkreise