KS C IEC 60749-21-2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit
Start
KS C IEC 60749-21-2020
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-21-2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
KR-KS
Letzte Version
KS C IEC 60749-21-2020
KS C IEC 60749-21-2020 Veröffentlichungsverlauf
2020
KS C IEC 60749-21:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit
2005
KS C IEC 60749-21:2005
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 21: Lötbarkeit
© 2024 Alle Rechte vorbehalten.