KS C IEC 60749-21:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-21:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-21:2020

KS C IEC 60749-21:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60749-21:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit
• 2005 KS C IEC 60749-21:2005 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 21: Lötbarkeit