YD/T 4030-2022
Verteilte Speichertestmethode für Rechen- und Speichertrennungsarchitektur (Englische Version)
Start
YD/T 4030-2022
Standard-Nr.
YD/T 4030-2022
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2022
Organisation
工业和信息化部
Letzte Version
YD/T 4030-2022
YD/T 4030-2022 Veröffentlichungsverlauf
2022
YD/T 4030-2022
Verteilte Speichertestmethode für Rechen- und Speichertrennungsarchitektur
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